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導通電阻試驗裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

J-RAS ECMr離子遷移試驗裝置，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。離子遷移實驗裝置 絕緣...

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離子遷移實驗裝置（CAF） 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻...

J-RAS離子遷移試驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生...

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短...

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導通電阻試驗裝置 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

日本J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF） CAF試驗/CAF測試是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經...

ECM-100離子遷移測試裝置（CAF）是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經過長時間的測試（1 ～...

3000V離子遷移試驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）,經過長時間的測試（1 ～1000小時）并...

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